ПРОГРАММНЫЕ ПРОДУКТЫ

 

Программное обеспечение для управления зондовыми станциями серии TS2000 производства MPI Corporation в составе комплексов контрольно-измерительных для испытаний полупроводниковых приборов на пластинах

 

Технологический стэк:

Язык программирования (frontend и backend): графический язык программирования «G»

IDE: LabVIEW
 Сборщики и менеджеры пакетов: LabVIEW Application Builder
 Инструменты для тестирования: LabVIEW Unit Test Framework Toolkit

 

 

 

Назначение

Программное обеспечение (ПО) предназначено для управления зондовыми станциями (ЗС) серии TS2000 производства MPI Corporation и контрольно-измерительным оборудованием для обеспечения автоматизации процесса отбраковочных испытаний полупроводниковых приборов на пластине.

 

Область применения

 

ПО применяется в автоматизированных измерительных комплексах для отбраковочных испытаний полупроводниковых приборов на пластине.

 

Общие сведения

 

ПО представляет собой совокупность программ и вспомогательных файлов, необходимых для его функционирования.

ПО разработано с учетом следующих особенностей:

 

• необходимость в управлении функциями как зондовых станций, так и контрольно-измерительной аппаратуры в составе комплексов;
• возможность расширения поддерживаемого перечня поддерживаемых зондовых станцией и контрольно-измерительной аппаратуры.

 

Управление ЗС и контрольно-измерительной аппаратуры (КИА) со стороны ПО выполняется за счет отправки в оборудование специализированных команд управления в текстовом виде и приема ответных данных с подтверждением выполнения или ошибкой.

 

ПО включает в себя драйвера для управления ЗС серии TS2000 производства MPI Corporation, а также обеспечивает масштабирование по перечню поддерживаемых для управления серий (линеек) ЗС производства MPI Corporation, путем разработки и загрузки файлов с драйверами управления ЗС, при условии соблюдения требований к разработке драйвера и интерфейсу информационного обмена.

Информационный обмен между ПО и ЗС, а также между ПО и КИА выполняется по локальной сети, протокол TCP/IP.

 

ПО имеет графическую среду для создания и редактирования алгоритма последовательности отправки команд управления в ЗС и КИА, что обеспечивает пользователю гибкость в настройке режимов измерений.

 

 

Программное обеспечение для статистического анализа и графического представления результатов измерений на пластине

 

Технологический стэк:

Язык программирования (frontend и backend): графический язык программирования «G»

IDE: LabVIEW
 Сборщики и менеджеры пакетов: LabVIEW Application Builder
 Инструменты для тестирования: LabVIEW Unit Test Framework Toolkit

 

Назначение

 

Программное обеспечение (ПО) предназначено для чтения и анализа данных с результатами измерений на пластине, а также их представления в графическом виде.

 

Область применения

 

ПО применяется в автоматизированных измерительных комплексах для отбраковочных испытаний полупроводниковых приборов на пластине.

 

Общие сведения

 

ПО представляет собой совокупность программ и вспомогательных файлов, необходимых для его функционирования.

 

ПО разработано с учетом следующих особенностей:

 

• необходимость в чтении и синтаксическом разборе (парсинге) текстовых файлов, содержащих информацию с результатами измерений в определённом формате;
• иметь возможность корректировать границы разбраковки для анализа причин отклонений в результатах;
• необходимости в графическом представлении результатов как в табличном виде, так и в виде гистограмм/карт пластин с распределением результатов по градиентам;
• необходимость преобразования данных в требуемый формат, а также возможность вывода результатов на печать.

 

 

 

Анализ данных с результатами измерений выполняется путем чтения данных из файла и их парсинга для сопоставления между числовым результатом, методами измерения и идентификационными данными объекта контроля (ОК). Преобразованные и сгруппированные данные представляются в виде таблиц/гистограмм/карт распределения в графическом интерфейсе пользователя ПО.

 

ПО имеет возможность сохранять данные в табличном виде и изображения в файлы в соответствующем формате, а также отправлять эти данные на печать.

 

Программное обеспечение для регулировки LCR-тракта при измерениях емкостных параметров транзисторов и диодов на пластинах.

 

Технологический стэк:

Язык программирования (frontend и backend): графический язык программирования «G»

IDE: LabVIEW
 Сборщики и менеджеры пакетов: LabVIEW Application Builder
 Инструменты для тестирования: LabVIEW Unit Test Framework Toolkit

 

Назначение

 

Программное обеспечение (ПО) предназначено для выполнения функций регулировки тракта измерения емкостных параметров, при измерениях параметров полупроводниковых приборов (ППП) на пластине при помощи соответствующей контрольно-измерительной аппаратуры (КИА) для измерений LCR-параметров.

 

Область применения

 

ПО применяется в автоматизированных измерительных комплексах для отбраковочных испытаний ППП на пластине.

 

Общие сведения

 

ПО представляет собой совокупность программ и вспомогательных файлов, необходимых для его функционирования.

 

ПО разработано с учетом следующих особенностей:

 

• необходимость в программном управлении функциями КИА;
• возможность расширения перечня поддерживаемых КИА в ПО;
• сформированный файл калибровки должен иметь определенный формат и структуру данных для загрузки в КИА.

 

 

ПО формирует файл калибровки, который затем используется в КИА с целью обеспечения соответствия точности выполняемых измерений на пластине заявленным техническим характеристикам. Файл калибровки представляет собой набор калибровочных коэффициентов, которые формируются в ПО на основании исходных данных, введённых пользователем и полученных результатов измерений от КИА.

 

Управление КИА со стороны ПО выполняется за счет отправки специализированных команд управления в текстовом виде и приема ответных данных с подтверждением выполнения или ошибкой.

 

Информационный обмен между ПО и КИА выполняется по локальной сети, протокол TCP/IP.

 

ПО включает в себя программу с графическим интерфейсом пользователя, который обеспечивает настройку, запуск, контроль выполнения и просмотр результатов процесса регулировки.

 

 

 

 

РЕАЛИЗОВАННЫЕ ПРОЕКТЫ ПО РАЗРАБОТКЕ ПРОГРАММНОГО ОБЕСПЕЧЕНИЯ

 

 

Разработка программного обеспечения Стенда для отладки и испытаний Опытного образца модуля 100 В/1 А из состава Конфигурируемой модульной системы для комплексных автоматизированных измерений и контроля характеристик полупроводниковых приборов широкой номенклатуры по параметрам статических, зарядовых, ёмкостных, энергетических и динамических характеристик в диапазоне до 4000 В/300 А

 

 

Технологический стэк:

Язык программирования (frontend и backend): графический язык программирования «G»

IDE: LabVIEW
 Сборщики и менеджеры пакетов: LabVIEW Application Builder
 Инструменты для тестирования: LabVIEW Unit Test Framework Toolkit

 

Разработка программного обеспечения Стенда для отладки и испытаний Опытного образца модуля 2 кВ/10 мА из состава Конфигурируемой модульной системы для комплексных автоматизированных измерений и контроля характеристик полупроводниковых приборов широкой номенклатуры по параметрам статических, зарядовых, ёмкостных, энергетических и динамических характеристик в диапазоне до 4000 В/300 А

 

 

Технологический стэк:

Язык программирования (frontend и backend): графический язык программирования «G»

IDE: LabVIEW
 Сборщики и менеджеры пакетов: LabVIEW Application Builder
 Инструменты для тестирования: LabVIEW Unit Test Framework Toolkit

 

 

Разработка программного обеспечения Стенда для отладки и испытаний Опытного образца модуля 800 В/200 мА из состава Конфигурируемой модульной системы для комплексных автоматизированных измерений и контроля характеристик полупроводниковых приборов широкой номенклатуры по параметрам статических, зарядовых, ёмкостных, энергетических и динамических характеристик в диапазоне до 4000 В/300 А

 

 

Разработка программного обеспечения Стендов для испытаний модуля управления 2 и подсистемы вторичного питания 2 из состава Конфигурируемой модульной системы для комплексных автоматизированных измерений и контроля характеристик полупроводниковых приборов широкой номенклатуры по параметрам статических, зарядовых, ёмкостных, энергетических и динамических характеристик в диапазоне до 4000 В/300 А

 

Технологический стэк:

Язык программирования (frontend и backend): графический язык программирования «G»

IDE: LabVIEW
 Сборщики и менеджеры пакетов: LabVIEW Application Builder
 Инструменты для тестирования: LabVIEW Unit Test Framework Toolkit

 

 

Разработка программного обеспечения модуля 40 В/300 А и модуля 40 В/20 А из состава Конфигурируемой модульной системы для комплексных автоматизированных измерений и контроля характеристик полупроводниковых приборов широкой номенклатуры по параметрам статических, зарядовых, ёмкостных, энергетических и динамических характеристик в диапазоне до 4000 В/300 А

 

 

Технологический стэк ВПО микроконтроллеров:

Язык программирования: C
 IDE: STM32CubeIDE

Технологический стэк для проектов ПЛИС:

Язык программирования: Verilog/SystemVerilog
 IDE: Vivado

 

Разработка встроенного программного обеспечения для модуля встроенного осциллографа из состава Конфигурируемой модульной системы для комплексных автоматизированных измерений и контроля характеристик полупроводниковых приборов широкой номенклатуры по параметрам статических, зарядовых, ёмкостных, энергетических и динамических характеристик в диапазоне до 4000 В/300 А

 

Технологический стэк ВПО микроконтроллеров:

Язык программирования: C
 IDE: STM32CubeIDE

Технологический стэк для проектов ПЛИС:

Язык программирования: Verilog/SystemVerilog
 IDE: Quartus (для ПЛИС Altera), Vivado (для ПЛИС Xilinx)

 

 

Разработка встроенного программного обеспечения для Модуля 4 кВ/5 мА из состава Конфигурируемой модульной системы для комплексных автоматизированных измерений и контроля характеристик полупроводниковых приборов широкой номенклатуры по параметрам статических, зарядовых, ёмкостных, энергетических и динамических характеристик в диапазоне до 4000 В/300 А

 

Технологический стэк ВПО микроконтроллеров:

Язык программирования: C
IDE: STM32CubeIDE

Технологический стэк для проектов ПЛИС:

Язык программирования: Verilog/SystemVerilog
IDE: Vivado

 

 

Разработка встроенного программного обеспечения для Модуля программируемого коммутатора со встроенным пикоамперметром и LCR-метром из состава Конфигурируемой модульной системы для комплексных автоматизированных измерений и контроля характеристик полупроводниковых приборов широкой номенклатуры по параметрам статических, зарядовых, ёмкостных, энергетических и динамических характеристик в диапазоне до 4000 В/300 А

 

Технологический стэк ВПО микроконтроллеров:

Язык программирования: C
IDE: STM32CubeIDE

Технологический стэк для проектов ПЛИС:

Язык программирования: Verilog/SystemVerilog
IDE: Vivado

 

 

Разработка программного обеспечения модуля 40 В/100 А и модуля коммутатора со встроенным пикоамперметром из состава Системы контрольно-измерительной модульного типа для комплексной автоматизированной проверки полупроводниковых приборов широкой номенклатуры по параметрам статических, зарядовых, ёмкостных и энергетических характеристик в диапазоне до 2000 В/100 А

 

 

Технологический стэк для проектов ПЛИС:

Язык программирования: Verilog/SystemVerilog
IDE: Quartus

 

Разработка программного модуля «Мастер функционального контроля алгоритмического генератора тестов» из состава программного обеспечения модульной Тестовой платформы с открытой архитектурой нового типа и комплектом функциональных, измерительных и программных модулей для метрологического обеспечения испытаний СБИС

 

 

Разработка программного модуля «SHMOO диаграмма» из состава программного обеспечения модульной Тестовой платформы с открытой архитектурой нового типа и комплектом функциональных, измерительных и программных модулей для метрологического обеспечения испытаний СБИС

 

 

Разработка встроенного программного обеспечения алгоритмического генератора тестов для измерительного модуля PIN400M из состава модульной Тестовой платформы с открытой архитектурой нового типа и комплектом функциональных, измерительных и программных модулей для метрологического обеспечения испытаний СБИС

Разработка программного модуля «Мастер внешних устройств» из состава программного обеспечения модульной Тестовой платформы с открытой архитектурой нового типа и комплектом функциональных, измерительных и программных модулей для метрологического обеспечения испытаний СБИС

 

 

Разработка программного модуля «Карта ошибок» из состава программного обеспечения модульной Тестовой платформы с открытой архитектурой нового типа и комплектом функциональных, измерительных и программных модулей для метрологического обеспечения испытаний СБИС

 

 

Разработка программного модуля «Логический анализатор-отладчик» из состава программного обеспечения модульной Тестовой платформы с открытой архитектурой нового типа и комплектом функциональных, измерительных и программных модулей для метрологического обеспечения испытаний СБИС