ИСПЫТАНИЯ ЭКБ

С 2012 г. испытательная лаборатория АО «ИЛФОРМ», аккредитованная в системе добровольной сертификации «Военэлектронсерт», оказывает услуги по проведению испытаний ЭКБ российского и иностранного производства.

ВИДЫ ИСПЫТАНИЙ В СООТВЕТСТВИИ С СЕРТИФИКАТОМ АККРЕДИТАЦИИ

ИЛФОРМ предлагает проведение 38 видов испытаний, включая входной контроль электронных компонентов, а также испытания:

• на воздействие климатических факторов,
• на стойкость к механическим воздействиям,
• конструкции,
• разрушающий физический анализ (РФА),
• дополнительные испытания.

Услуга проведения испытаний на заказ дает возможность предприятиям-потребителям покупных электронных компонентов осуществлять надлежащий входной контроль ЭКБ по электрическим и временным параметрам без необходимости приобретать Тестеры и Тестовые решения.

Также испытательная лаборатория оказывает содействие Потребителям Тестеров FORMULA в рекламационной работе, проводя инструментальную экспертизу отказов ЭКБ, анализ применения ЭКБ в аппаратуре Потребителя, а при необходимости использует методы разрушающего физического анализа (РФА).

НОМЕНКЛАТУРА ПРОВЕРЯЕМОЙ ЭКБ

Измерительное и испытательное оборудование лаборатории, а также более чем 5-ти летний опыт инженеров ИЛФОРМ позволяют производить высококачественные измерения широкого класса электронных компонентов:

• Цифровые, аналоговые и цифро-аналоговые интегральные микросхемы, в том числе высокочастотные СБИС
• Полупроводниковые приборы
• Слаботочные электромагнитные реле.

Входной контроль ЭКБ на заказ выполняется с использованием готовых Тестовых решений для конкретных типов электронных компонентов.

При отсутствии необходимого Тестового решения в библиотеке Тестовых решений ИЛФОРМ, мы будем рады разработать новое Тестовое решение по Вашим требованиям на заказ.

ТЕХНИЧЕСКОЕ ОСНАЩЕНИЕ

ИЗМЕРИТЕЛЬНОЕ ОБОРУДОВАНИЕ:

• Тестер СБИС FORMULA HF3 (256 каналов, частота функционального контроля до 200 МГц по каждому каналу, память 64М векторов/ошибок)
• Тестер БИС и ИМС FORMULA 2K (256 каналов, частота функционального контроля до 20 MГц в диапазоне ±10 В по каждому каналу, память 1М векторов/ошибок)
• Тестер полупроводниковых приборов FORMULA TT2 (напряжение до 2 кВ, ток до 100 А)
• Тестер электромагнитных реле FORMULA R (800 В / 0,5 А / 0…300 мс)
• Тестер электронных модулей и узлов FORMULA CK (192 канала, частота функционального контроля до 20 MГц в диапазоне ±30 В по каждому каналу, память 1М векторов/ошибок)

ИСПЫТАТЕЛЬНОЕ ОБОРУДОВАНИЕ:

• Мобильная испытательная система TPO4310A-8С4-11 Temptronic